„Introduction to Verification and Test of Integrated Circuits“

2-tägiges, individuell anpassbares Seminar zu Tests integrierter Schaltungen

Leitung:

Dr. Martin Allinger

Ziel:

Die Integrierten Schaltungen im Bereich Analog, Mixed-Signal und RF werden immer komplexer. Deshalb nimmt Test und Verifikation immer mehr an Bedeutung zu und kann im Wesentlichen den Erfolg eines Projekts beeinflussen.

Gute Verifikation und Testlösungen garantieren Kundenzufriedenheit und können teure Kundenreklamation verhindern. In der Wertschöpfungskette ist Test eines der wichtigsten Kostenfaktoren und bestimmt daher wesentlich die Produktkosten. Ein zeiteffizienter Test mit guter Testabdeckung ist eine der wichtigsten Herausforderungen für die heutigen IC-Entwicklungsteams.

Dieses Seminar soll Ihnen einen Überblick über die heutigen Möglichkeiten und “Best Practices” in Test und Verifikation geben.

Inhalt:

  • Einführung: Entwicklungszyklus eines ICs
  • Typische Testaufbauten und Instrumente (inklusive Umgebungen für automatisierten Test)
  • Grundlegende Mess- und Testkonzepte (DC)
  • DAU-Test
  • Datenanalyse und Statistik
  • Abtastung und DSP-basiertes Testen
  • ADU-Test
  • Design-for-Test (DfT)
  • Typische Test-Probleme im Analogbereich


Zielgruppe:

  • Junge Test- und Verifikations-Ingenieure
  • Ingenieure von System- und Schaltungsdesign, die sich mehr über die Aufgaben und Herausforderungen des Tests und der Verifikation von integrierten Schaltungen informieren wollen

Referent:

Martin Allinger

Martin Allinger studierte Elektrotechnik mit dem Schwerpunkt Mikroelektronik an der Universität Erlangen-Nürnberg. Er startete seine Karriere 2007 als Entwicklungsingenieur mit Fokus auf Entwicklung von Produktionstestlösungen für hochauflösende Datenwandler bei Texas Instruments.

2012 erwarb er einen Doktortitel an der Universität Erlangen-Nürnberg. Im selben Jahr schloss er sich dem IC-Entwicklungsteam von eesy-ic in Nürnberg an.

 

 

 

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